Chroma 致茂 ATE 测试设备：自动化测试平台核心技术参数解读

Chroma 致茂电子（Chroma ATE）源自中国台湾，是全球自动化测试设备、可编程电源、电子负载、半导体测试系统龙头厂商，产品覆盖电源供应器测试、电池测试、功率器件测试、半导体 IC 测试、LED 与车载电子可靠性测试，广泛应用新能源、功率半导体、消费电子、汽车电子、AI 芯片实验室与自动化产线，以模块化平台架构、高通道密度、高速信号同步、宽量程可编程能力为核心特点致茂电子 ...。

Chroma 63800 系列可编程交直流电子负载，是电源测试经典机型。直流规格电压区间 7.5V~500V，单通道最大电流 45A，支持恒流 CC、恒压 CV、恒阻 CR、恒功率 CP、整流 DC 多种工作模式，信号上升时间 75μs，可模拟非线性负载特性；电容测试量程 100~9999μF，电阻 2.77~9999.99Ω，多台可并联扩容大功率负载，用于开关电源、储能变流器、车载 OCP 的老化与动态负载测试。

半导体 SoC 测试系统 3680 是芯片测试旗舰，最高支持 2048 个数字通道，数据传输速率高达 1Gbps，扫描向量存储深度可达 16G；集成高精度 AD/DA 测试模组，信噪比 110dB，总谐波失真 - 120dBc，可同步完成数字逻辑、模拟参数、电源、存储器、射频混合信号测试，适配碳化硅、氮化镓功率 IC、BMS 电池管理芯片、AI 算力芯片。3650-S2 电源 IC 测试系统，最大供电电压 3000V、电流 320A，768 路电源与数字通道，面向高压大功率功率半导体器件动态参数验证。

电池测试系统拥有丰富功率档位，包含 20V/65A、60V/180A、200V/100A、500V/13A 等多规格模块，支持多通道并联，单台系统最多集成多通道独立充放电回路，可做容量、循环寿命、HPPC 脉冲、过充过放保护测试，搭配温控环境舱，模拟车载高低温工况。

3180 系列半导体 IC 分选机，支持 8 工位并行测试，UPH 最高 9000 片，温度控制范围常温～150℃；3260 射频 OTA 测试屏蔽箱，射频屏蔽衰减≥-80dB，支持 6 站并行无线性能测试，用于蓝牙、WiFi、车载通信模组辐射性能检测。ESD 测试仪 58154 系列，人体模型 500V~8kV，器件模型 50V~800V，脉冲间隔 20ms~1s 可编程，正负脉冲软件切换，满足半导体、PCB 静电防护验证。

硬件架构上 Chroma 全部采用模块化设计，可按需增减通道、升级测试板卡，降低平台扩容成本；内置高精度数字量测单元，同步采集电压、电流、时序、噪声参数；支持 GPIB、LAN、USB 多通信接口，配套 ATE 自动化测试软件，编辑测试程序、自动判定 PASS/FAIL，生成标准化测试报告。设备自带保护机制，过压 OV、过流 OC、过热 OT、反接保护，避免待测 DUT 与测试硬件损坏。Chroma 整套测试平台兼顾研发实验室高精度验证与产线大批量高速自动化测试，覆盖从元器件、模组到整机全层级电性能、可靠性测试，是新能源与半导体产业链的自动化测试装备