HIOKI日本日置 阻抗分析仪 相位测量稳定 定位:射频元器件研发 + 产线一体化测试 专注片式电感、磁珠、射频滤波器、谐振器、匹配网络高频阻抗 / 谐振特性测试; 兼顾实验室研发扫频 + SMD 元件产线高速分选。
IM3570
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2026-09-01
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HIOKI日本日置 阻抗分析仪 阻抗高精度 定位:射频元器件研发 + 产线一体化测试 专注片式电感、磁珠、射频滤波器、谐振器、匹配网络高频阻抗 / 谐振特性测试; 兼顾实验室研发扫频 + SMD 元件产线高速分选。
IM3590
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2026-09-01
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HIOKI日本日置 阻抗分析仪 测量高重复 定位:射频元器件研发 + 产线一体化测试 专注片式电感、磁珠、射频滤波器、谐振器、匹配网络高频阻抗 / 谐振特性测试; 兼顾实验室研发扫频 + SMD 元件产线高速分选。
IM7583
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2026-09-01
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HIOKI日本日置 阻抗分析仪 最快半毫秒 定位:射频元器件研发 + 产线一体化测试 专注片式电感、磁珠、射频滤波器、谐振器、匹配网络高频阻抗 / 谐振特性测试; 兼顾实验室研发扫频 + SMD 元件产线高速分选。
IM7585
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2026-09-01
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HIOKI日本日置 阻抗分析仪 射频滤波器 定位:射频元器件研发 + 产线一体化测试 专注片式电感、磁珠、射频滤波器、谐振器、匹配网络高频阻抗 / 谐振特性测试; 兼顾实验室研发扫频 + SMD 元件产线高速分选。
IM7580A
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2026-09-01
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HIOKI日本日置 阻抗分析仪 磁珠阻抗测试 定位:射频元器件研发 + 产线一体化测试 专注片式电感、磁珠、射频滤波器、谐振器、匹配网络高频阻抗 / 谐振特性测试; 兼顾实验室研发扫频 + SMD 元件产线高速分选。
IM7581
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2026-09-01
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