【简介】Chroma 致茂- 测试系统-模块化硬件架构
板卡可灵活选配扩容，按需搭建测试通道。维护便捷，支持多品类元器件、电源与半导体测试，适配实验室研发与产线自动化检测场景。

Chroma 致茂-  测试系统-模块化硬件架构

Chroma 致茂-  测试系统-模块化硬件架构

Chroma 致茂模块化测试系统依托成熟的可插拔硬件架构，打破传统一体化测试设备固定配置、升级困难的局限，为半导体、电源、新能源电子等行业提供从研发验证到产线量产的一体化测试解决方案。系统采用标准化机框插槽设计，各类测量板卡、信号源模块、高压模块、数字 I/O 模块可按需选配、自由组合，通道数量、测试功能可随产品迭代灵活扩容，无需整体更换主机，大幅降低设备投入成本。

该模块化硬件体系具备良好的信号同步性能，板卡之间拥有精准时序控制，保障多通道并行测量的一致性，有效抑制通道相位偏移问题。硬件模块支持热插拔维护，当单块测试板卡出现故障时，可单独更换模块，其余硬件单元持续工作，减少整机停机检修时间，提升产线稼动率。标准化接口设计让硬件模块具备跨系列兼容性，前期研发阶段选用的信号采集、电源激励模块，可直接迁移至量产 ATE 系统复用，原有测试程序可保留，减少二次开发工作量。

在性能层面，系统可集成 VI 源、波形发生器、数字化采集单元、高压测试模块等多种硬件，覆盖电源效率、动态负载、绝缘耐压、芯片混合信号等多类型测试项目。硬件底层预留扩展空间，可根据测试需求升级至大功率、高通道密度配置，适配消费电子、功率半导体、动力电池模组、服务器电源等多元化待测对象。

配套开放式软件平台与模块化硬件深度适配，支持多模块协同触发，可对接 MES、自动化治具与机械手，搭建全自动测试产线。整套架构兼顾实验室小批量样品验证与工厂大批量并行测试场景，兼顾测量精度、系统稳定性与长期可扩展性，是电子电气产品可靠性测试、性能验证的高性能测试平台。