【简介】Chroma 致茂- 测试系统-通道独立运行设计
各通道可单独配置参数、独立触发采集，互不干扰。支持同步与异步测量模式，适配多器件并行测试，提升半导体与电源产品测试效率。

Chroma 致茂-  测试系统-通道独立运行设计

Chroma 致茂-  测试系统-通道独立运行设计

Chroma 致茂测试系统采用通道独立运行架构，打破传统多通道设备共用主控、参数互相牵制的短板，每一路测试通道拥有专属测量单元与驱动电路，各通道可单独设定输出电压、电流、采样速率、触发条件，通道之间运行互不干扰，是电源、功率半导体、新能源器件性能与可靠性测试的优选方案。

在常规多通道测试平台中，通道往往共用一套时序控制单元，修改单通道参数会影响其他通道测量状态，难以实现不同待测件差异化测试。而致茂这套系统的独立通道设计，支持异步工作模式，各个通道能够启动、停止、采集相互独立，可同时对多款规格不同的 DUT 执行不一样的测试序列。例如部分通道做稳态负载测试，其余通道执行瞬态冲击、短路保护测试，无需等待全部通道同步完成，大幅提升多品类并行测试灵活性。

同时系统保留全局同步触发能力，兼顾两种测试场景。当需要多通道同步采集相位、时序信号时，可开启同步模式，保障通道间时序精准；进行多器件异步并行老化、分选测试时，切换至独立运行模式，单个通道故障不会造成整套系统停机，仅故障通道暂停工作，其余通道持续执行测试任务，有效降低产线停机损失，提升设备稼动率。

硬件层面，独立通道配备隔离电路，抑制通道间串扰，减小通道串扰带来的测量误差，保障微弱信号、高压信号测量精度。通道配置可软件快速切换，无需改动硬件接线，研发阶段可灵活变更测试方案，量产阶段可快速切换产品型号测试程序，缩短产线换型时间。

系统配套专业测试软件，可视化界面单独监控每一路通道数据，实时查看电压、电流、功率等测量曲线，支持单独保存单通道测试日志。兼容自动化机械手、MES 系统对接，广泛应用于电源模块、IGBT、MOSFET、储能变流器等产品研发验证与产线分选测试。独立通道架构兼顾测试灵活性、测量稳定性与系统容错能力，适配从小批量实验室验证到大批量自动化产线的各类测试需求。