【简介】Chroma 致茂- 测试系统-低发热机柜设计
优化内部风道与功率模块散热布局，降低整机温升。减少机房制冷负荷，稳定测量精度，适合长时间老化与大功率连续测试场景。

Chroma 致茂-  测试系统-低发热机柜设计

Chroma 致茂-  测试系统-低发热机柜设计

Chroma 致茂测试系统采用低发热机柜设计，针对大功率测试工况下整机温升过高的痛点，对功率器件布局、风道结构与热传导路径进行一体化优化，有效降低机柜内部热量堆积，保障仪器长时间稳定运行，是功率电子、新能源器件连续老化测试的重要硬件保障。

传统大功率测试机柜，功率模块集中排布，内部热流相互干扰，热量难以快速排出。长时间满负荷运行时机柜内部温度持续攀升，不仅会造成测量温漂，影响测试数据一致性，还会加速元器件老化，缩短设备使用寿命，同时大幅增加机房空调的制冷压力，提升产线运维成本。致茂低发热机柜从源头减少热生成，配合高效散热风道，实现整机温升控制。

机柜内部对功率单元做分区布局，发热量大的功率模块独立隔舱设计，避免热量传导至信号采集板卡等精密测量组件。风道采用前后对流式结构，独立温控风扇根据实时温度动态调节转速，在保证散热能力的同时降低噪音。功率器件选用低损耗元件，减少工作过程中的热能产出，从根源降低发热，而非单纯依靠风机强制散热。

稳定的机内温度环境，有效抑制温漂带来的测量误差，在长时间老化、多通道并行大功率测试场景下，电压、电流、功率测量精度保持稳定，批量测试数据重复性更好。较低的整机发热量，减轻机房空调负荷，降低产线整体能耗。同时减少高温对内部电路板、电容等器件的持续热冲击，延长设备使用寿命，降低故障概率与停机维护时间，提升产线稼动率。

机柜防护结构兼顾防尘与散热平衡，可拆卸防尘滤网便于定期清洁，防止灰尘堵塞风道造成散热衰减。整机结构适配自动化产线机架安装，可与机械手、MES 系统配套使用。无论是实验室研发验证，还是工厂大批量电源、功率半导体、储能模块的连续测试，低发热机柜设计都能持续维持稳定工作环境，减少温度干扰，提升整套测试系统可靠性。