【简介】RENISHAW 雷尼绍-高精度测头-无 3D 瓣状
消除瓣状机构带来的方向误差，各向触发一致性优异，微米级稳定探测，保障精密零件多方向机内测量精度。

RENISHAW 雷尼绍-高精度测头-无 3D 瓣状

RENISHAW 雷尼绍-高精度测头-无 3D 瓣状

传统多向触发测头普遍采用 3D 瓣状机械结构，不同探测方向下会产生固有瓣状误差，导致各向触发点位不一致，在斜面、异形轮廓、小孔等精密特征测量时，容易引入方向相关测量偏差，制约微米级检测精度。雷尼绍高精度测头采用无 3D 瓣状设计，消除瓣状机构带来的方向误差，实现多方向触发一致性，满足精密模具、航空零件等高要求机内测量场景。

无 3D 瓣状结构摒弃了传统瓣片式触发方案，内部传感机构经过精密力学平衡设计。测球无论从 X、Y、Z 任意轴向或是斜向接触工件表面，触发阈值保持高度统一，不会因探测角度变化产生明显的方向偏差。有效解决传统测头在不同方向测量时重复性不一致的痛点，大幅降低轮廓测量、多点扫描过程中的系统误差，让多角度采集的数据真实可靠。

该结构兼顾优异的单向重复性与各向均衡性能。在对工件斜面、内孔侧壁、复杂曲面进行多点探测时，不会出现部分方向测量偏大好、部分方向偏小的瓣状误差现象。即便连续切换测量方向，测头触发响应稳定，测量离散值控制在微米区间，为轮廓度、位置度等形位公差检测提供可靠数据支撑。同时机构运动阻力均匀，减少测杆受力形变带来的附加误差。

在实际精密加工应用中，无 3D 瓣状特性大幅降低测量程序补偿难度。加工阶段可多角度采集基准特征，精准建立工件坐标系；工序中持续监测关键形位尺寸，配合数控系统完成刀具磨损补偿。避免因瓣状误差造成误判，减少精密工件报废风险。机构抗振动能力良好，搭配整机密封防护，可耐受切削液与粉尘，长期工况下性能衰减缓慢。

测头兼容主流数控系统，配套成熟测量宏程序，现场调试便捷。面向精密机械、航空航天、模具加工领域，雷尼绍高精度测头凭借无 3D 瓣状结构，消除方向固有测量偏差，提升多特征机内检测精度，助力企业稳定管控微米级加工品质。