光见精准，丈量智造｜RENISHAW 雷尼绍携多自由度光栅亮相行业展会

RENISHAW 雷尼绍携多款前沿精密测量方案重磅亮相行业智能制造展会，以 “光，见精准" 为参展主题，现场展出全新多自由度 M‑DoF 绝对式光栅、RCS 机器人校准系统、Equator 比对仪、新一代激光干涉仪等核心产品，面向五轴机床、半导体、自动化产线、精密检测领域，现场搭建交互式演示单元，直观展示光学测量技术如何赋能装备数字化制造，吸引众多设备制造商、工艺工程师与科研客户驻足交流。

本次展会最大亮点为全新多自由度 M‑DoF 光栅系统，搭载 RXMA30 1.5D 专用栅尺，基于 RESOLUTE 绝对式读数头技术，单次测量可同步捕捉六自由度运动误差，一次性采集 X/Y 位移、直线度、俯仰、偏摆、滚转多项误差数据。传统方案需要多套光栅组合才能实现多维度误差采集，而雷尼绍这款新品简化机械结构，无需复杂信号运算，开机无需回零，断电重启直接读取绝对坐标，非常适合半导体运动平台、高精度光学加工设备。即便在温度波动、轻微粉尘的工业环境，凭借信号校验算法，依然保持纳米级测量稳定性，周期误差低至 ±40nm。

展台同步展出 RCS 机器人校准与检测套件，包含 RCS L‑90、T‑90 诊断工具与 RCS P 系列机器人测头，用于工业机器人精度标定、碰撞后快速复位、设备健康诊断。在现场演示单元，观众可以直观看到机器人发生碰撞后，借助雷尼绍测头快速完成工件坐标系恢复，大幅缩短停机维修时间，提升自动化产线稼动率。同时展出的 Equator‑X 比对仪，依托比对测量原理，实现工件批量快速在线检测，可集成至产线闭环质量控制，加工数据实时反馈机床，自动补偿加工偏差，适配汽车零部件、航空结构件批量质检场景。

激光干涉仪展区展示新一代 RLE 系列激光编码器，专为半导体精密运动控制开发，模块化设计，光学组件可单独拆装更换，维修无需重新光路校准，降低设备维护成本。还有 REVO 五轴扫描测头、机床球杆仪等经典校准产品，用于五轴机床几何精度检测、整机性能验收，是装备出厂与定期校准的核心计量工具。所有测量系统均为无接触光学式，无机械磨损，长期使用稳定性优于磁栅与接触式编码器。

展会现场技术工程师提供一对一方案咨询，针对不同行业客户的运动控制、在线检测、设备校准痛点进行案例分享。从微米级工件轮廓扫描，到半导体平台纳米级定位，雷尼绍全套精密测量方案贯穿加工、检测、校准全流程。本次参展，雷尼绍以现场实操演示的形式，向制造业展示光学计量的前沿成果，助力国内装备、自动化、半导体产业实现精度突破与智能制造升级。