Chroma 致茂- 测试系统-放电能源回收技术 可将待测件释放的电能回输电网,降低能耗与发热。减少散热负担,提升测试稳定性,广泛用于电源、储能及功率半导体量产测试。
3380P
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2026-09-15
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Chroma 致茂- 测试系统-通道动态并联扩容 可软件配置多通道合并输出,提升电流 / 功率能力。无需改动硬件接线,兼顾独立测试与大功率负载场景,适配电源及功率半导体测试。
3650
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2026-09-15
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Chroma 致茂- 测试系统-通道独立运行设计 各通道可单独配置参数、独立触发采集,互不干扰。支持同步与异步测量模式,适配多器件并行测试,提升半导体与电源产品测试效率。
3680
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2026-09-15
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Chroma 致茂- 测试系统-模块化硬件架构 板卡可灵活选配扩容,按需搭建测试通道。维护便捷,支持多品类元器件、电源与半导体测试,适配实验室研发与产线自动化检测场景。
3650-S2
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2026-09-15
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