【简介】METTLER梅特勒托利多-电子天平-自动内校
搭载 FACT 全自动内校功能，可随温度、时间自动启动校准，无需人工操作，抑制温漂，稳定称量性能，满足 GWP 与 GMP 等合规管控要求。

METTLER梅特勒托利多-电子天平-自动内校

METTLER梅特勒托利多-电子天平-自动内校

梅特勒托利多电子天平搭载 FACT 全自动内校功能，是保障称量精度长期稳定的核心质控功能，广泛配置于 XPR、MX 等分析天平、超微量天平与质量比较仪，有效解决环境温度波动带来的称量漂移问题，为精密实验提供持续可靠的计量基础。

精密天平的传感器对温度变化十分敏感，环境温差、设备连续工作发热都会造成零点与量程偏移，若依靠人工定期校准，容易出现校准不及时、操作不规范、遗忘校准等问题，进而引入系统误差，增加实验 OOS 风险。FACT 自动内校内置标准砝码，无需外接砝码，天平可实时监测环境温度，当温度变化达到设定阈值，或是到达预设时间周期时，自动启动校准流程，全程无需人员干预。

校准过程自动完成零点、量程、线性等项目校验，校准结束后自动记录校准结果，生成完整校准日志，和称量记录绑定保存，支持审计追踪。校准记录包含校准时间、温度、校准状态等信息，满足 GMP、CNAS、21 CFR Part11、GWP 良好称量实践等规范要求，方便实验室开展期间核查、计量溯源管理，减轻实验人员的校准管理工作量。

用户也可根据自身实验需求，手动触发校准，兼顾自动化管控与灵活操作。该功能和 LevelControl 水平监控、StaticDetect 静电检测等质控功能协同使用，形成一套完整的称量质控体系。在微量标品配制、药物杂质分析、砝码比对、痕量检测等场景中，即使实验室昼夜温差较大，天平精度也能保持稳定，平行样品称量重复性更好，减少贵重标品浪费。

FACT 自动内校从源头降低人为校准带来的操作偏差，将校准工作标准化、常态化，避免因校准疏漏造成数据失效。配合 LabX 软件可实现校准记录远程查看、自动归档，适配制药、第三方检测、计量机构、新材料研发等高监管实验室，持续保障称量数据准确、可追溯，简化实验室计量质量管控流程。