【简介】METTLER梅特勒托利多-电子天平-静电检测
配备 StaticDetect™静电检测，实时识别样品、容器静电干扰并预警，减少静电引发称量偏差，搭配除静电模块，保障微量称量数据稳定可靠。

METTLER梅特勒托利多-电子天平-静电检测

METTLER梅特勒托利多-电子天平-静电检测

梅特勒托利多电子天平搭载 StaticDetect™静电检测功能，是针对微量、超微量称量场景的专属智能质控模块，广泛配置于 XPR 系列分析天平与质量比较仪，可有效解决静电带来的隐性称量误差，是痕量分析、标品配制过程中的质控手段。

在精密称量时，样品、称量舟、塑料容器在取放、转移过程中极易产生静电电荷。静电会产生吸附力或者排斥力，干扰传感器读数，造成称量结果漂移、数据重复性变差。这类误差区别于气流、水平偏移等常规干扰，肉眼无法察觉，尤其在十万分之一及更高精度天平上，静电造成的偏差足以影响实验结果，引发 OOS 异常，给制药、计量、材料研发实验室带来风险。传统方式只能依靠经验判断，很难提前识别静电问题。

StaticDetect™能够实时监测称量区域内静电水平，自动评估静电对称量结果的影响程度。当静电量超出安全阈值，系统立即通过屏幕提示、StatusLight 状态指示灯发出预警，提醒实验人员暂停称量，消除静电后再继续测试。该功能可搭配选配的静电消除模块联用，快速中和样品与容器表面电荷，从根源消除静电干扰。

静电检测记录可随称量日志同步保存，纳入审计追踪，满足 GMP、CNAS、21 CFR Part11 以及 GWP 良好称量实践的管控要求，让静电干扰管控由经验化转为标准化。它与 FACT 自动内校、LevelControl 水平监控协同，构建多维度称量质控体系。

该功能非常适合贵重标品、微量粉体、薄膜样品、高分子材料等容易起静电的样品称量。通过提前识别静电风险，减少平行样数据离散，降低标品损耗，避免无效实验。配合 LabX 软件，静电预警信息可自动归档，方便实验室质量复盘。在药物杂质分析、半导体材料测试、砝码比对、环境痕量检测等高要求场景中，StaticDetect™有效提升微量称量的数据稳定性与可信度，助力实验室落实精细化称量质量管理。