【简介】METTLER梅特勒托利多-电子天平-超高精度
依托自研电磁力传感技术，具备超高称量精度，重复性与线性误差优异，可满足微量、痕量样品称量，适配标品配制、杂质分析，保障精密检测数据准确可靠。

METTLER梅特勒托利多-电子天平-超高精度

METTLER梅特勒托利多-电子天平-超高精度

梅特勒托利多电子天平的超高精度，依托品牌成熟的电磁力补偿式称重传感器核心技术打造，是精密称量结果可靠的基础保障，广泛应用于分析天平、超微量天平、质量比较仪等机型，适配微量标品配制、药物杂质检测、痕量分析、砝码比对等对误差控制极为严苛的实验场景。

高精度称量对环境与硬件控制要求，传感器经过精密装配与温度优化，可有效降低温漂影响，配合 FACT 全自动内校功能，能够根据环境温度变化自动完成校准，持续维持称量性能，避免长期使用带来的精度漂移。产品出厂经过严格的计量测试，重复性、线性、偏载等关键指标均优于国标要求，可稳定实现毫克乃至微克级分辨，能够精准称量贵重、微量样品，减少样品损耗，降低昂贵标准物质的使用成本。

不同于普通天平，高精度机型搭配 SmartGrid 格栅秤盘、高效防风结构，抑制气流扰动；配合 StaticDetect 静电检测、LevelControl 水平监控等智能质控功能，从静电、水平、气流等多个维度消除隐性干扰因素。很多微小误差肉眼无法识别，而高精度传感器可以捕捉细微重量变化，满足 USP 最小称量值管控要求，规避因称量精度不足引发的 OOS 异常结果。

该精度指标可溯源至国家计量基准，设备支持送检获取计量证书，符合 CNAS、GMP、GLP、21 CFR Part11 等法规体系要求。称量数据稳定、离散度小，多次平行称量结果一致性好，适合开展平行样测试、差重称量、密度测定等精密实验。同时配套 LabX 软件，高精度称量数据自动留存、审计追踪完整，实现精度管控数字化。

在制药研发、新材料表征、环境检测、计量院、半导体实验室等场景中，稳定可靠的超高精度是开展科研与质控工作的前提。梅特勒托利多通过硬件、算法、智能质控功能相结合，持续稳定输出高精度称量结果，帮助实验室把控称量环节的质量风险，为检测数据的准确性、科学性提供有力支撑。