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METTLER梅特勒托利多-电子天平-数据防篡改

【简介】METTLER梅特勒托利多-电子天平-数据防篡改
具备数据防篡改机制,称量记录、审计日志加密存储,删除与修改权限受控,操作留痕不可擦除,满足 GMP、21CFR Part11 合规要求。

产品型号:XPR15002LDR
更新时间:2026-11-03
厂商性质:经销商
访问量:2
产品介绍

METTLER梅特勒托利多-电子天平-数据防篡改

METTLER梅特勒托利多-电子天平-数据防篡改

梅特勒托利多 XPR、MX 系列电子天平内置可靠的数据防篡改机制,是实验室电子记录合规的核心保障,称量结果、校准记录、参数修改日志、告警信息安全存储,防止数据私自修改、删除,广泛应用于制药、第三方检测等受法规严格管控的实验室。
传统纸质记录存在涂改、撕换风险,普通仪器电子记录容易被直接编辑覆盖,一旦数据出现异常,难以判定是否为原始测试结果,在 GMP、21 CFR Part11 审核中属于重大合规缺陷。天平的数据防篡改体系依托权限分级、审计追踪、日志固化协同实现。
所有称量原始数据、自动校准记录、参数变更记录、打印及通讯上传事件,生成后自动写入只读日志区,无法直接编辑或删除。如需调整,只能新增一条带原因备注的修正记录,系统同时保留原始数据,形成新旧对照,所有修改动作、修改人、修改时间完整留存。管理员可以配置权限,限制普通操作员修改、清除日志,仅授权人员才可执行复核操作。
数据防篡改功能和用户权限、密码保护联动,账号实名操作,每一条日志绑定操作人员信息。存储的记录可打印、导出至 LabX 或 LIMS 系统,导出文件自带溯源信息,保证电子副本与本机原始记录一致。即便将数据导出,原始仪器日志依旧保存,不会随导出动作清除。
天平的静电预警、水平状态、最小称量提醒等质控信息同步纳入不可篡改日志,完整还原称量当时的仪器环境条件。在对照品配制、杂质检测、装量差异检查等高风险项目中,数据真实性直接决定实验结论有效性。
数据防篡改从底层保障电子原始记录的公信力,规避人为篡改数据的合规风险,满足 CNAS、GMP、21 CFR Part11 对电子记录的法规要求,方便审核人员追溯数据全生命周期,为实验室电子记录管理筑牢安全防线。
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