METTLER梅特勒托利多-电子天平-防风防尘
METTLER梅特勒托利多-电子天平-防风防尘
特勒托利多 XPR、MX 系列电子天平配置一体化密闭防风罩，兼具防风、防尘双重防护作用，是超高精度天平抵御环境干扰的基础结构设计，广泛用于制药洁净实验室、痕量分析、对照品配制等对环境洁净度要求严苛的称量场景。
分析与超微量天平的传感器十分灵敏，空调气流、人员走动带来的风扰，会造成读数漂移、稳定时间变长；空气中漂浮粉尘、样品扬尘一旦进入机芯内部，附着在传感器、弹性元件上，会造成计量性能衰减、重复性变差，还会带来样品交叉污染风险，不符合 GMP 洁净管控要求。
透明防风罩形成相对封闭的称量腔体，可有效隔绝外部气流冲击，配合 SmartGrid 格栅秤盘打散腔内涡流，缩短读数沉降时间。防风罩支持小门加样设计，加样时仅开启局部窗口，大幅减少空气、粉尘涌入；闲置时可搭配防尘罩，进一步阻挡浮尘堆积。防风罩玻璃组件无需工具即可快速拆装，接液盘、秤盘同步可拆，方便擦拭清洁，避免粉尘长期积留。
防风防尘结构不影响静电检测、水平监控、FACT 自动内校等质控功能运行。整套称量操作、校准记录自动写入审计追踪，样品信息可录入结果记事本，数据支持打印或上传 LabX、LIMS 系统，满足 GMP、CNAS、21 CFR Part11 的数据完整性和溯源要求。
在微量粉体称量、贵重对照品加样场景中，防风防尘一方面降低气流扰动带来的数据偏差，另一方面阻挡粉尘侵入机芯，延长传感器使用寿命，同时减少不同批次样品交叉污染风险。操作人员可以在普通实验室环境下开展微量称量，降低洁净棚等配套设施投入。
防风防尘结构兼顾防护性能与操作便捷性，在保障称量精度稳定的同时，降低粉尘污染风险，减少仪器维护频次，帮助实验室稳定控制称量环境，降低环境因素引发的 OOS 风险，为精密称量提供可靠的环境防护屏障。
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