MKS美国-压力传感器-超低迟滞特性 升降压循环下读数偏差微小，形变可逆，减少回程误差，适配半导体真空精密压力测控场景。

MKS美国-压力传感器-超高测量重复性 形变可逆，具备超高测量重复性。多次压力循环下读数离散极小，抗蠕变，适配半导体真空工艺的反复压力测控场景。

MKS美国-压力传感器-高精度读数值标定 具备优异线性与低迟滞，搭配温度补偿，读数精准稳定，长期漂移小，适配半导体真空场景精密压力监测。

MKS美国-压力传感器-直接真实压力测量 电容薄膜压力传感器依托膜片力学形变实现直接真实压力测量，不依赖气体理化特性，输出绝压真值，测量线性好、迟滞低，适用于半导体真空精密压力监控

MKS美国-压力传感器-气体种类无关测量 采用力学形变检测压力，读数与气体种类无关，不受气体分子量影响。高精度绝压测量，零点稳定，适配半导体各类工艺气体真空监测。

MKS美国-压力传感器-电容式薄膜传感原理 以 Inconel 弹性薄膜受压形变，改变膜片与固定电极间电容，将压差转为线性电信号。测真实压力，不受气体种类影响，精度高、迟滞低，多用于半导体真空测控。