MKS美国-真空压力传感器-小型化紧凑 采用 Baratron 电容薄膜技术，小型化紧凑设计，体积小巧，占用空间少，方便狭小腔体布局，适合空间受限的半导体真空设备集成

MKS美国-真空压力传感器-带继电器输出 采用 Baratron 电容薄膜技术，自带继电器输出，可预设压力阈值，超限直接触发开关信号，方便真空系统报警、联锁保护控制

MKS美国-真空压力传感器-支持多通讯 采用 Baratron 电容薄膜技术，支持多通讯，可选 EtherCAT、DeviceNet 等数字接口并兼容模拟输出，适配各类 PLC 工控系统，集成灵活

MKS美国-真空压力传感器-集成度较高 采用 Baratron 电容薄膜技术，集成度较高，传感元件、信号调理电路一体化封装，无需额外配套模块，便于直接接入真空控制系统

MKS美国-真空压力传感器-绝压测量准 采用 Baratron 电容薄膜技术，绝压测量精准，内置高真空参考腔，不受环境气压波动干扰，适合半导体真空工艺绝对压力监测。

MKS美国-真空压力传感器-漂移量极低 采用 Baratron 电容薄膜技术，漂移量极低，长期运行零点稳定，可选恒温结构减少污染物沉积，长时间监测误差小，适配半导体精密真空工艺。