METTLER梅特勒托利多-电子天平-符合 GMP
METTLER梅特勒托利多-电子天平-符合 GMP
梅特勒托利多 XPR、MX 系列电子天平在设计与功能层面满足 GMP 药品生产质量管理规范要求，是制药研发、原料检验、制剂质控、对照品配制等制药实验室的核心称量设备，帮助实验室搭建合规的称量管控流程，顺利通过内审、客户审计及监管核查。
GMP 规范对仪器管控、人员管理、原始数据、记录溯源都有着严格要求，严禁数据篡改、记录缺失、操作不受控等问题。该系列天平配套一整套合规功能模块，形成闭环质量管理体系。分级用户权限搭配独立密码保护，区分管理员、复核员、操作员职责，明确操作权责，杜关人员随意修改仪器参数与称量方法。所有登录、称量、校准、参数修改、备注编辑等操作全部纳入审计追踪，日志自动留存、不可删除篡改，记录包含操作人员、时间戳、设备状态等信息，实现全流程可追溯。
天平内置方法存储功能，可将符合 SOP 的称量程序固化在仪器内，操作人员一键调用统一方法，减少人为设置差异，保证实验重现性。结果记事本可同步记录样品批号、异常情况等信息，和称量数值绑定归档，补齐原始记录信息。同时搭载 FACT 自动内校、StaticDetect 静电检测、LevelControl 水平监控等智能质控模块，持续监测称量环境条件，及时预警异常干扰，降低称量误差，保障称量结果稳定可靠。
称量数据可通过网口、USB 接口导出，支持对接 LabX 软件、LIMS 系统与打印机，实现数据自动归档，减少纸质记录带来的转录错误。天平可配合 GWP 良好称量实践完成验证、期间核查，出具性能评估资料，支撑仪器验证文件（IQ/OQ/PQ）的落地。
整套合规能力相互协同，把 GMP 的质量要求嵌入称量环节。在原料药含量检测、杂质研究、微量标品配制等高风险称量场景中，有效规避 OOS 风险，保障称量原始数据真实、准确、完整，满足制药行业质量体系核查要求，为药品研发与检验工作提供可靠的合规支撑。
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