METTLER梅特勒托利多-电子天平-满足 CNAS
METTLER梅特勒托利多-电子天平-满足 CNAS
梅特勒托利多 XPR、MX 系列电子天平，各项性能满足 CNAS 实验室认可相关准则要求，适用于第三方检测、科研、计量等需要通过 CNAS 评审的实验室，为检测结果的有效性、溯源性提供支撑。
CNAS 要求实验室所用测量设备计量性能符合预期，量值能够溯源至国家计量基准，同时设备管控、记录管理、期间核查等流程规范可控。该系列天平出厂指标严苛，重复性、线性、偏载等计量指标满足精密称量需求，设备可送检获得计量检定或校准证书，实现量值溯源，满足认可准则对测量设备溯源的硬性要求。
天平配套的质控功能，FACT 自动内校、LevelControl 水平监控、StaticDetect 静电检测持续监控称量条件，降低环境干扰带来的测量偏差。支持 GWP 良好称量实践方案，可协助实验室完成天平的性能验证、定期期间核查，形成完整的设备验证与核查文档，作为 CNAS 评审材料。
系统自带审计追踪、分级用户权限、密码保护，称量记录、校准日志、预警信息自动保存，不可随意篡改；搭配方法存储、结果记事本，将样品信息、测试条件与称量数值绑定记录，记录清晰完整，方便评审专家查阅复核。数据可导出、对接 LIMS 及 LabX 软件，实现记录电子化归档，减少人工记录差错。
天平的操作、校准、维护记录体系，契合 CNAS 对原始记录、设备管理的规范性要求。在环境检测、材料测试、理化分析等检测项目中，稳定可靠的称量性能与完备的文件支撑，帮助实验室落实设备管理程序，顺利通过 CNAS 现场评审，保障出具的检测报告具备公信力。
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