METTLER梅特勒托利多-电子天平-加样支架
METTLER梅特勒托利多-电子天平-加样支架
梅特勒托利多电子天平可选配加样支架，适配 XPR、MX 系列分析天平、超微量天平及质量比较仪，专为微量粉体、对照品精准加样场景设计，辅助操作人员平稳完成加样，减少操作扰动，提升称量稳定性，是微量称量重要的人体工学辅助配件。
在差重称量、对照品配制、杂质检测等工作中，实验人员常直接在秤盘上方手动加粉。手部靠近称量腔、加样动作容易带动空气流动，形成气流扰动，造成读数漂移、稳定时间拉长；加样力度控制不稳还容易出现样品飞溅，贵重对照品损耗增加，平行样数据离散变大，提升 OOS 风险。超微量等级天平对这类扰动尤为敏感，轻微气流就会显著影响结果。
加样支架安装在称量室内，为药勺、加样舟提供支撑支点。操作人员加样时，工具可依托支架定位，手部不需要悬空作业，有效缓解手抖，控制加样落点，减少粉末飞溅。同时，支架限定手部位置，降低手掌进出称量室带来的气流冲击，配合 SmartGrid 格栅秤盘、防风结构，进一步稳定称量环境，加快读数收敛。
支架结构精简镂空，不会大面积遮挡气流，不破坏称量室空气流通，不影响静电检测、水平监控等质控功能。材质光滑耐腐蚀，拆卸方便，可随同接液盘一同擦拭清洁，不易积存样品粉末，适配 GMP 洁净实验室要求。
支架的使用方式贴合实验室 SOP，新人借助支架更容易掌握平稳加样手法，降低操作培训成本。在少量多次加样、微量对照品配制场景下，能够节约昂贵标准物质，提升平行样结果一致性。
加样支架属于辅助配套组件，不改变天平本身计量指标，与 FACT 自动内校、审计追踪等功能协同。它从操作方式上降低人为扰动因素，把加样操作标准化，减少人为操作误差，帮助实验室在微量称量过程中稳定控制称量条件，保障数据重复性，降低精密称量的操作难度与实验成本。
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