METTLER梅特勒托利多-电子天平-计数称量
METTLER梅特勒托利多-电子天平-计数称量
梅特勒托利多 XPR、MX 系列电子天平自带计数称量功能，依托重量换算原理实现样品数量统计，广泛用于制药胶囊、微球、小型配件、微粒物料等小件样品批量清点，将人工点数转为称重计数，提升清点效率。
人工清点微小样品不仅耗时耗力，长时间操作极易出现漏数、重复计数，微小颗粒、胶囊等样品数量大、体积小，目视清点误差高，还容易造成样品污染、丢失。计数称量功能先放入已知数量的样品做单重标定，天平自动计算单个样品平均重量；后续放入同批次样品，仪器根据总重量自动换算出样品数量，实时显示在屏幕上。
标定参数、计数允差、输出格式可保存为专属称量方法，一键调用，保证同批次样品标定条件统一，减少人为设置差异。标定过程、计数结果、操作人员、时间戳全部自动记录，纳入审计追踪，样品信息可录入结果记事本，支持打印或上传 LabX、LIMS 系统归档，满足 GMP、CNAS 溯源管理要求。
该功能可设置数量上下限，超出范围时声光提醒，快速筛出异常批次。静电检测、水平监控同步生效，规避静电、台面不平带来的重量偏差，防止单重不准引发计数错误。天平触控界面分步引导标定与计数操作，上手简单，降低人员培训成本。
在胶囊分装核查、药用微球、小耗材等场景中，计数称量大幅节省人工时间，避免人为点数失误。管理员管控方法修改权限，防止单重参数被随意改动，保障计数标准稳定。
计数称量以重量法替代人工清点，兼顾速度与准确性，减少样品接触污染风险。完整的记录链条方便质量复核与审计核查，帮助实验室高效完成小件物料清点管控，保障物料数量准确，提升物料分装与核查工作效率。
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