【简介】MKS美国-压力传感器-表压测量型号
以现场大气压为参考基准，采用电容薄膜原理。实时监测相对压力，结构简洁，适配工业高压、流体工艺及通用设备压力测控场景

MKS美国-压力传感器-表压测量型号

MKS美国-压力传感器-表压测量型号

在工业高压反应、流体输送、通用工艺腔体等应用场景中，很多设备关注的是介质相对于当地大气压的差值，而非绝对真空基准压力。若选用绝对压力传感器，还需额外采集大气压做换算，增加控制系统复杂度。MKS Baratron 表压型电容薄膜压力传感器，以环境大气压作为参考基准，直接测量相对压力，结构简洁，适配各类通用高压与流体工艺压力监测。

传感器沿用成熟的电容薄膜传感原理，感应膜片一侧接入被测工艺介质，另一侧直接连通大气，以现场大气压作为参考零点。当被测介质压力变化时，精密合金膜片产生形变，改变膜片与固定电极间的电容，内置信号调理电路将电容信号转换为标准压力输出，直接得到表压数值，无需控制器进行二次换算，简化设备程序开发。

产品结构设计简洁可靠，承压能力强，部分型号量程可达数千 PSIA，能够承受较高的工艺压力冲击。传感膜片经过应力优化处理，减少温度带来的零点漂移；接液接触面可选用耐蚀合金材质，耐受多数工艺气体与洁净流体介质，适配非强腐蚀、高压工况。相比绝对压力传感器，省去内置密封真空参考腔，降低成本，同时减少真空基准泄漏带来的长期漂移风险。

传感器信号输出稳定，抗电磁干扰性能优异，响应速度快，可实时追踪压力动态变化，保障工艺压力闭环控制。适用场景覆盖高压反应腔体、工业供气系统、流体压力测试台、通用化工设备、非真空高压工艺装置等。标准化机械接口与电气输出，便于整机集成，也适合老旧设备测控模块改造。每台传感器出厂均在大气压基准下完成多点标定，保障全量程测量线性度与重复性。

在大量工业场景中，工艺控制只需要相对大气压的压力差值，表压测量方案更加经济高效。MKS Baratron 表压型压力传感器依托成熟电容薄膜技术，直接输出表压，结构精简，兼顾测量精度与承压性能，满足高压、流体等通用工艺的压力监测需求，在保证测控稳定的前提下，有效降低设备的硬件与集成成本，是工业高压测控的优选传感方案。