MKS美国-电容压力计-超高分辨率输出 精密电容膜片可捕捉微小压力变化，信号解析能力强，输出线性稳定，精准反馈真空微压力波动，适配半导体真空制程监测。

MKS美国-电容压力计-优异测量重复性 精密金属膜片传感结构，压力往复变化时读数一致性高，迟滞小，搭配温度补偿，稳定输出压力信号，适配半导体真空精密制程监测

MKS美国-电容压力计-高精度测量特性 依托精密电容膜片传感，测量重复性好、迟滞低，内置温度补偿，信号稳定，可精准监测真空压力，多用于半导体精密工艺

MKS美国-电容压力计-绝对压力直测原理通过精密金属膜片感应压力变化，将电容信号转化输出。测量不受气体组分干扰，精度高、稳定性强，适配半导体真空工艺压力监测。

MKS美国-电容压力计-气体成分无关测量 依托膜片形变检测原理，实现气体成分无关的真实压力测量。高精度、低迟滞，耐工艺腐蚀，0-10V 模拟输出，广泛用于半导体真空与精密制程压力监测。