METTLER梅特勒托利多-电子天平-差重称量
METTLER梅特勒托利多-电子天平-差重称量
梅特勒托利多 XPR、MX 系列电子天平内置差重称量功能，是实验室微量粉体、对照品、原料药取样的称量模式，广泛用于制药研发、理化检测、杂质分析等合规实验室，可直接在仪器调用，也可保存为标准化方法执行。
差重称量的原理为先称量盛放样品的称量舟或称量瓶连同样品的总质量，取样之后再次称量容器与剩余样品质量，由天平自动计算两次读数差值，即为本次取用样品重量。相比直接称量法，差重称量可以规避样品粘附秤盘、样品容易飞扬、吸湿增重带来的误差，尤其适合用量少、易吸潮、易静电、易飞溅的微量样品，是药典和实验室 SOP 优先推荐的称量方式。
操作人员可将差重称量参数、输出格式、提示步骤通过方法存储固化在天平内，多人操作时统程。称量过程中的数值、样品备注、预警信息自动保存，纳入审计追踪，操作人员、时间戳同步记录，满足 GMP、USP、CNAS 以及 21 CFR Part11 的数据完整性要求。当取样量低于 USP 最小称量限值时，天平会主动预警，规避不合规称量。
该功能与格栅秤盘、静电检测、加样支架协同使用，降低气流、静电、样品飞溅带来的干扰。称量结果可一键打印，也可自动上传 LabX、LIMS 系统，无需人工计算差值，消除人工运算错误。天平屏幕分步引导操作，新手也可以按照提示完成取样，降低操作门槛。
在对照品配制、药物杂质检测、痕量分析等场景，差重称量能够显著提升微量取样的准确性，减少昂贵标准物质浪费。整套流程将差重法标准化、数字化，不再依靠人工纸笔计算，每一次取样量都可溯源复核。它是精密实验室基础且核心的称量工具，帮助实验室稳定控制取样误差，降低 OOS 风险，保障检测数据真实可靠。
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