【简介】Chroma 致茂-自动光学检测-高分辨率相机
搭载高感光成像芯片，高速采集微细节图像，精准捕捉微小划痕、异物缺陷，适配先进封装、面板产线高精度光学检测。

Chroma 致茂-自动光学检测-高分辨率相机

Chroma 致茂-自动光学检测-高分辨率相机

Chroma 致茂 AOI 高分辨率相机，是致茂自动光学检测系统的核心成像组件，专为半导体先进封装、Mini/Micro LED 显示面板等高精密制程打造，提供高解析度、高稳定性的图像采集能力，为 2D 缺陷识别与 3D 形貌量测提供清晰图像数据源。

在微纳制造检测场景中，微小划痕、微颗粒异物、线路缺口、RDL 细微断线等缺陷尺寸极小，普通相机像素不足，图像模糊，极易造成漏检、误判。致茂高分辨率相机搭载高性能感光芯片，像素密度高，可捕捉微米级细微特征，还原工件表面真实细节，保障微小缺陷有效检出。相机兼顾成像清晰度与采集速度，在保证高分辨率的同时维持较高帧率，满足产线在线高速检测产能需求，不会因成像拖慢整条产线节拍。

相机采用专业光学设计，动态范围优异，可适配不同反光特性的被测工件，应对晶圆、基板、铜线路、焊料凸点等材质带来的明暗反差，减少高光过曝与暗区噪点问题。具备低噪声成像特性，长时间连续工作下图像质量稳定，温漂控制良好，适应车间内温度波动的工业现场环境。标准化接口设计，可直接集成至致茂 AOI 平台，搭配多组程控光源与物镜协同工作，支持 2D 外观检测与 3D 量测同步取像。

相机经过严格出厂校准，成像一致性好，机台之间图像偏差小，便于产线多台设备统一判定标准。配套致茂自研图像算法，可快速解析高清图像，自动定位缺陷位置，提取缺陷尺寸信息，降低伪缺陷报警率。设备支持 SECS/GEM 通讯，采集的图像与检测数据可上传 MES 系统，用于 SPC 制程统计分析。

面对 HBM、2.5D 封装、Micro LED 等制造严苛质检需求，高分辨率相机是 AOI 系统的视觉基础。依靠清晰稳定的图像采集能力，助力产线精准识别微缺陷，把控制程品质，减少不良品流入下一工序。作为整套光学检测链路的前端核心部件，致茂高分辨率相机为一体化 AOI 检测方案提供可靠的图像支撑，保障精密电子制造在线质检稳定运行。