【简介】Chroma 致茂-自动光学检测-异色缺陷识别
依托多光谱成像与 AI 算法，精准识别色差、变色、氧化等异色瑕疵，适配先进封装、面板制程，稳定区分伪缺陷。

Chroma 致茂-自动光学检测-异色缺陷识别

Chroma 致茂-自动光学检测-异色缺陷识别

Chroma 致茂 AOI 异色缺陷识别技术，依托多光谱成像与 AI 智能分析算法，是先进封装、Mini/Micro LED 面板制程中用于色差类瑕疵筛查的核心检测模块，可集成在一体化 AOI 平台，实现工件表面变色、氧化、污渍、色差等异色缺陷自动化检出。

在半导体与显示行业生产过程中，基板氧化、表面污渍、镀层色差、封装胶变色、线路区域异色等缺陷，往往没有明显的几何轮廓，仅依靠普通灰度成像很难识别，极易发生漏检；同时基板纹理、正常工艺色差容易被误判为缺陷，造成高误报率，影响产线节拍。致茂异色缺陷识别技术搭载多通道光谱采集方案，可捕捉人眼与普通相机难以分辨的细微色彩差异，从光谱维度区分正常工艺色变与真实缺陷。

该模块与高分辨率相机、程控光学镜头模组协同工作，可根据不同材质工件定制色彩判定模型。针对铜箔、阻焊层、封装树脂、发光芯片等不同材料，建立专属色彩基准库，AI 算法自动比对采集图像与标准色板，精准定位异色区域并量化色差等级，有效过滤纹理、光影带来的伪缺陷，降低误报。

系统适配多倍率光学切换，低倍率全域扫描快速锁定可疑区域，高倍率对目标位置做精细色彩分析。检测流程可融入原有 AOI 检测工序，一次上料同步完成外观、尺寸与异色筛查，无需额外增加工位。支持 SECS/GEM 工业通讯，缺陷位置、色差参数、图像样本实时上传 MES 系统，生成 SPC 报表，便于追溯不良成因，提前预警制程漂移。

面对 HBM、2.5D 封装、Micro LED 等精密制造严苛质检需求，异色缺陷识别补足传统 AOI 在色彩类缺陷检测上的短板。致茂这套方案减少人工目视复检工作量，规避人眼疲劳带来的漏检，稳定识别各类细微色差瑕疵，把控产品外观品质。作为一体化 AOI 平台重要功能模块，它丰富缺陷检测维度，为精密电子制造提供更全面可靠的在线品质管控方案。