【简介】Chroma 致茂-自动光学检测-可编程光源系统
支持多通道光源独立调控，可自定义光照角度与波段，消除反光干扰，适配先进封装、面板多类型缺陷光学检测。

Chroma 致茂-自动光学检测-可编程光源系统

Chroma 致茂-自动光学检测-可编程光源系统

Chroma 致茂 AOI 可编程光源系统，是自动光学检测平台的核心照明单元，可独立调控多通道光源的波段、角度、亮度与频闪时序，面向半导体先进封装、Mini/Micro LED 面板等精密制程，为 2D 缺陷识别、3D 形貌量测、异色缺陷检测提供可定制化光照方案。

微纳工件材质差异大，晶圆、基板、焊料凸点、封装树脂反光特性各不相同。固定光源极易产生镜面反光、阴影，掩盖细微划痕、异物、色差缺陷，造成漏检或误报。致茂可编程光源搭载多分区 LED 阵列，支持同轴、环形、低角度多角度照明组合，可根据检测目标自由切换光照模式，抑制强反光，强化缺陷与基材之间的图像对比度。

系统支持软件编程预设多组照明方案，针对不同检测工位一键调用。检测凸点高度、VIA 孔深度可选用斜射光凸显轮廓；识别表面异色、氧化瑕疵时切换特定光谱光源，放大色差信号。光源与相机、镜头模组时序联动，同步控制曝光与频闪，提升图像信噪比，降低噪点，保障微米甚至纳米级特征成像清晰。

整套光源系统具备高稳定性，长时间连续作业亮度衰减低，温漂控制优异，适配工厂车间温度波动环境。模块化设计便于维护更换，光源分区可单独启停调节，降低能耗。可与 AOI 定位解析模块联动，在工件定位完成后自动匹配对应的光照参数，无需人工现场调试，大幅缩短新产品换型时间。

光源系统深度适配一体化 AOI 检测流程，一次上料可调用多套光照方案依次采集图像，同步完成外观、异色、三维形貌检测。支持 SECS/GEM 通讯，光照参数、图像数据上传 MES 系统，用于制程分析。

在 HBM、2.5D/3D 先进封装、显示面板质检场景，可编程光源是缺陷可视化的关键。致茂可编程光源系统，通过灵活可控的照明策略，减少光学干扰，提升缺陷检出率，降低误报，为精密电子在线光学检测提供稳定可靠的照明支撑。