MKS美国-压力传感器-超高重复性 具备超高测量重复性，多次压力循环测量数值一致性高，保障真空工艺参数稳定，多用于半导体精密压力测控。

MKS美国-压力传感器-优异长期信号稳定性 出厂多点标定，具备优异长期信号稳定性，零点漂移低，长期运行测量可靠，适配半导体真空工艺压力监测。

MKS美国-压力传感器-全量程线性输出 具备优异全量程线性输出，信号与压力呈良好线性关系，测量误差小，适配半导体真空精密压力测控。

MKS美国-压力传感器-气体种类无关测量 测量结果与气体种类无关，无需随气体更换重新校准，稳定精准，多用于半导体真空腔体压力监测。

MKS美国-压力传感器-读数式高精度标定 支持读数式标定，依托电容膜片技术，标定精准稳定，可溯源校准，测量准确度高，适用于半导体真空工艺精密压力监测

MKS美国-压力传感器-经典电容膜片技术 采用经典电容膜片技术，测量不受气体组分影响，精度高、重复性优异，输出模拟信号，广泛用于半导体真空与精密工艺压力监测