MKS美国-压力传感器-超宽压力量程 依托 Baratron 电容膜片传感结构，单台覆盖多数量级压力区间。测量气体无关，低压段仍维持高精度，适配半导体真空各类工艺段监测。

MKS美国-压力传感器-读数式精度标定 误差基于实际读取压力值计算，而非满量程。全量程精度均匀，低压段同样保持高准确度，搭配 Baratron 芯体，适配半导体精密真空测控。

MKS美国-压力传感器-超高测量精度 采用张拉 Inconel 膜片，实现超高测量精度，按读数值计算误差，低迟滞高分辨率，恒温控温抑制温漂，气体无关测量，适配半导体精密真空制程

MKS美国-压力传感器-气体无关测量 依托 Baratron 电容膜片力学测压原理，读数不受气体组分、分子量影响。混合及腐蚀性工艺气体下测量稳定，适配半导体等离子真空制程。

MKS美国-压力传感器-电容膜片测压 张拉式 Inconel 合金膜片受压产生微形变，转化为电容信号。测量与气体种类无关，迟滞低、重复性好，适配半导体腐蚀性真空工艺。

MKS美国-压力传感器-巴特拉芯体 采用 Inconel 合金张紧膜片电容结构，内置高真空参考腔。测量与气体种类无关，迟滞低、重复性优，耐工艺腐蚀，是半导体压力测量经典传感核心。