MKS美国-压力传感器-Micro-Ion电离真空 采用微型电离规原理，用于超高真空测量。微型结构，检出限低，精准监测半导体腔体高真空，适配镀膜、刻蚀设备真空测控

MKS美国-压力传感器-MicroPirani热真空传感 依托微型皮拉尼传感原理，体积小巧，测量低真空区间。响应快、功耗低，用于半导体粗真空监测、腔体预抽真空及真空检漏

MKS美国-压力传感器-MEMS 压电传感技术 依托硅基 MEMS 压电传感芯片，体积小巧、响应迅速，气体无关测量。抗震动耐冲击，316 不锈钢膜片，适配半导体真空、薄膜工艺压力监测

MKS美国-压力传感器-差压测量传感 采用电容薄膜原理，精准采集两点介质压力差值。高灵敏度膜片，抗过载，用于气体流量监测、过滤器压差、工艺腔体差压测控

MKS美国-压力传感器-表压测量型号 以现场大气压为参考基准，采用电容薄膜原理。实时监测相对压力，结构简洁，适配工业高压、流体工艺及通用设备压力测控场景

MKS美国-压力传感器-绝对压力测量型 采用电容薄膜原理，直接测量绝对压力，不受环境大气压波动影响。测量稳定精准，适配半导体真空腔体、等离子工艺的压力闭环监测